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    光干涉透射法檢測元件厚度差的原理

    來源:時間:2023-11-27點擊:0次

    光干涉透射法檢測元件厚度差的原理

      在激光干涉儀進行透射測量時,激光光源發(fā)出的單色光,垂直向下經(jīng)過被檢元件上、下兩表面被標準反射鏡反射后會形成干涉條紋,每個點上所生的干涉條紋取決于該點上兩相干的光的光程差。當光程差為nλ+0.5λ時,顯示為暗條紋;當光程差為nλ+λ時,顯示為亮條紋;

      所以,當被檢元件的兩個面不完全平行,存在楔角時,沿楔角方向,元件的厚度逐漸增大,相應的光程差也逐漸變大,沿楔角方向就會產(chǎn)生間隔分布亮暗條紋。楔角越大,條紋越密集。

     

    檢測指標的簡單說明:

      PV值在數(shù)學上的定義是峰谷值( Peak to Valley),即最大值和最小值的差值。單位是λ(波長)。對應到干涉儀透射檢測上,就是被檢元件的厚度差。

      RMS值在數(shù)學上的定義是均方根值(root-mean-square),單位是λ(波長),這是一個統(tǒng)計值,RMS的大小反映了這些數(shù)據(jù)值的離散程度。對應到干涉儀透射檢測上,RMS值越小表明被檢元件的厚度平滑性越好,高低起伏越少。

      TTV值條紋根數(shù)是肉眼可見的被檢元件厚度差的直觀表現(xiàn),與PV值成線性關系。條紋根數(shù)越少表明被檢元件的厚度差越小。

           POWER值是測量物體上的最亮或最暗值。

      測量畫孔最大范圍16.8MM. 


     儀器參數(shù): 

    序號

    名稱

    GBM08A

    1

    測量原理

    菲索干涉原理

    2

    激光器

    半導體激光器 635nm 940nm

    3

    有效孔徑

    16.5mm   (允許同時管控8個孔)

    4

    標準鏡面形精度

    0.05λ

    5

    面形值重復精度

    PV 0.06λ(標準片)

    6

    面形值量程

    PV 0~3λ

    7

    測試時間

    PV測試:1秒;條紋數(shù)測試:1秒內(nèi)

    8

    夾具

    9

    軟件

    PVmeter

    10

    電源

    220V 60W

    11

    通訊接口

    USB

    12

    重量

    15Kg

    13

    自動化接口

    預留

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